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數(shù)字萬(wàn)用表常見(jiàn)的故障及處理方法

更新更新時(shí)間:2021-12-20      點(diǎn)擊次數(shù):5920
數(shù)字萬(wàn)用表是常見(jiàn)的一款儀表設(shè)備,而大家都知曉好長(zhǎng)時(shí)間的采用就杜絕不住問(wèn)題的發(fā)生。對(duì)一大塊出現(xiàn)故障儀表盤(pán)首要應(yīng)相關(guān)檢查分辨出現(xiàn)故障狀況是特征(全部功能性都不能夠精確測(cè)量),依然是特性(部分功能性或部分測(cè)量范圍),并且區(qū)別情況。  
⒈若全部檔均不能夠工作任務(wù),應(yīng)突出進(jìn)行檢查開(kāi)關(guān)電源電路和A/D轉(zhuǎn)換軟件去磁。進(jìn)行檢查機(jī)箱電源部位時(shí),可取下單面板充電電池,按緊電源總開(kāi)關(guān),用正正負(fù)極接被測(cè)表機(jī)箱電源負(fù),負(fù)正負(fù)極外接電源正(對(duì)數(shù)字萬(wàn)用表來(lái)講),控制開(kāi)關(guān)達(dá)到開(kāi)關(guān)電源電路管精確測(cè)量檔,若表明的是開(kāi)關(guān)電源電路管正面額定電壓,則詳細(xì)說(shuō)明機(jī)箱電源部位是好的,若誤差大,則詳細(xì)說(shuō)明機(jī)箱電源部位不太好。若表明引路,突出進(jìn)行檢查電源總開(kāi)關(guān)和充電電池虛線等。若表明不導(dǎo)通,則要選用短路法,逐漸斷掉采用機(jī)箱電源的電子元件,突出進(jìn)行檢查放大器電路、電子定時(shí)器及A/D轉(zhuǎn)換軟件等。若表明不導(dǎo)通,通常都不停毀壞一大塊集成化電子元件。進(jìn)行檢查A/D轉(zhuǎn)換軟件可以和主要表同一時(shí)間開(kāi)展,等同于數(shù)字模擬電子萬(wàn)用表的交流電表頭,實(shí)際進(jìn)行檢查方法:  
⑴被測(cè)表的測(cè)量范圍轉(zhuǎn)到直流電壓低擋;  
⑵精確測(cè)量A/D轉(zhuǎn)換軟件工作標(biāo)準(zhǔn)電壓是不是常規(guī)。按照表內(nèi)較常用A/D轉(zhuǎn)換軟件型號(hào)規(guī)格,相匹配V+腳和COM腳,精確測(cè)量值與它的典型值相相對(duì)比較是不是相符合。  
⑶測(cè)A/D轉(zhuǎn)換軟件的基準(zhǔn)點(diǎn)額定電壓,較常用的數(shù)字萬(wàn)用表的基準(zhǔn)點(diǎn)額定電壓通常全部都是100mV或1V,即精確測(cè)量VREF+與COM間的直流電壓,若偏移100mV或1V,可利用外接電阻器開(kāi)展調(diào)整。  
⑷進(jìn)行檢查輸進(jìn)為零的表明數(shù),把A/D轉(zhuǎn)換軟件的正端IN+與負(fù)端IN-短路,使輸進(jìn)額定電壓Vin=0,儀表盤(pán)表明“00.0"或“00.00"。  
⑸進(jìn)行檢查液晶顯示器的全亮筆畫(huà)查字。把檢測(cè)端TEST腳與正機(jī)箱電源端V+短路,使邏輯性地轉(zhuǎn)變成高電位,全都數(shù)字電路設(shè)計(jì)停止工作。因每個(gè)筆畫(huà)查字上面都加有直流電壓,因而全都筆畫(huà)查字亮對(duì)合表表明“1888",對(duì)合表表明“18888"。若存在缺筆畫(huà)查字狀況,進(jìn)行檢查A/D轉(zhuǎn)換軟件相匹配輸出腳與導(dǎo)電銀漿(或聯(lián)線),與液晶顯示器間是不是有出現(xiàn)接觸不良和掉線具體情況。  
⒉若部分檔不太好,詳細(xì)說(shuō)明A/D轉(zhuǎn)換軟件和機(jī)箱電源部位都工作任務(wù)常規(guī)。因直流電壓、電阻功率檔公用自主分壓電阻;交直流電流公用分線盒;交流電流與電流值公用自主AC/DC轉(zhuǎn)換軟件;其余如Cx、HFE、F等都由單獨(dú)的不同的轉(zhuǎn)換軟件組合成。知道差異相互關(guān)系,再按照機(jī)箱電源圖,就非常容易找出出現(xiàn)故障部位。若精確測(cè)量小數(shù)據(jù)信號(hào)不準(zhǔn)確無(wú)誤或表明數(shù)字跳動(dòng)大,則突出進(jìn)行檢查測(cè)量范圍控制開(kāi)關(guān)的了解是不是優(yōu)良。  
⒊若表明精確測(cè)量鍵入不穩(wěn),且參數(shù)值經(jīng)常累計(jì)額變大,短路A/D轉(zhuǎn)換軟件的輸進(jìn)端,表明鍵入不求零的具體情況,則通常是0.1μF的基準(zhǔn)點(diǎn)瓷片電容性能指標(biāo)異常所基點(diǎn)的。
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